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eds能谱分析在线播放_eds能谱分析是什么(2024年12月免费观看)

内容来源：卡姆驱动平台所属栏目：导读更新日期：2024-12-03

eds能谱分析

SEM&EDS测试，速出结果！ 𐟔 仪器介绍：扫描电镜测试（SEM）：使用蔡司SIGMA HV#0249场发射扫描电镜，提供高倍率观察。 EDS能谱分析：配备牛津EDS系统，进行元素分析。 𐟏† 测试周期：收到样品后即刻安排检测，通常2～3天内出具结果。 𐟔젥ˆ†析内容：表面微观形貌观察，包括断口和孔洞分析。矿物组成研究，寻找微生物干体。放大倍数从十几倍到十万倍，满足不同观察需求。 𐟓… 价格： SEM测试：80元/样（含喷金） EDS测试：60元/样 𐟓栦 𗥓准备：无需特别准备，直接送样即可。

TEM揭秘：微观世界探秘 TEM测试是一种高分辨率的电子显微镜技术，主要用于观察材料的微观结构和成分。以下是TEM测试的几种常见目的： 𐟔 观察晶体结构：TEM可以通过电子衍射技术观察材料的晶体结构，包括晶格常数、晶体取向和晶体缺陷等信息。 𐟔젦ˆ分分析：TEM可以通过能谱分析技术（EDS）或电子能量损失谱（EELS）分析材料的成分，确定元素的种类和含量。 𐟓 研究形貌和尺寸：TEM可以观察材料的形貌和尺寸，包括颗粒的形状、大小和分布等信息。 𐟔砦Ž⧴⧕Œ面和反应：TEM可以观察材料的界面结构和界面反应，包括晶界、相界和界面反应产物等。 TEM测试在材料科学、化学和工程领域有着广泛的应用，为研究者提供了深入理解材料性质和行为的手段。

原子尺度揭秘金属间化合物生成过程最近，科学家们通过原位能量色散X射线能谱（EDS）技术，在原子尺度上揭秘了金属间化合物（IMC）的形成过程。这个研究特别关注了PtFe IMC的生成，发现了一些有趣的规律。纳米颗粒的化学变化 𐟌 首先，科学家们发现，在加热过程中，纳米颗粒内的Fe含量是连续变化的。在室温下，碳载体上的Pt和Fe元素分布得相当均匀。但当温度达到450℃时，Pt元素开始出现轻微的聚集现象。到了650℃，Pt元素的浓度在颗粒区域内明显增加，而Fe元素则主要分布在无颗粒区域。合金化的关键阶段 𐟔劊在750℃到950℃的高温退火阶段，纳米颗粒的Pt和Fe元素分布变得更加明显。随着温度的升高，Fe在纳米颗粒内的含量逐渐增加，而在颗粒区以外的含量则逐渐减少。这意味着在这个阶段，合金化是主要过程。化学计量比的变化 𐟓Š 定量EDS分析显示，在750℃时，纳米颗粒中的平均Pt/Fe比增加到2.9:1（Pt 74.2%，Fe 25.5%），这接近Pt3Fe IMC的目标化学计量比。进一步升高温度至850℃，纳米粒子的Pt/Fe比变为1.2:1（Pt 55.2%，Fe 44.8%）。最终，在950℃时，PtFe IMC的化学计量比达到1:1左右（Pt 52.0%，Fe 48.0%）。单个颗粒的化学计量比变化 𐟔슊为了更准确地监测单个颗粒的化学计量比变化，科学家们进一步对四个不同区域的代表性颗粒进行了高倍原位EDS分析。结果显示，这些颗粒在化学计量比变化中表现出相似的趋势。最初，在室温下，Pt和Fe元素均匀分布在碳载体上。当加热到450℃时，Pt团簇开始形成，其中Pt占这些团簇的90%以上。随着温度升高到650℃，纳米颗粒中的铁含量上升到约20%，表明合金形成成功。当温度进一步升高到750℃，原子排列有序，铁含量进一步增加。如补充图10所示，Pt/Fe元素的化学计量比约为3:1，证实了Pt3Fe IMC的形成。当温度进一步升高到850℃时，Fe向纳米颗粒中的扩散加剧，Pt/Fe比降至2:1左右。这个中间的化学计量比表明了一个相变。最终，Pt和Fe元素含量平衡，证实了PtFe IMC的形成。总结 𐟓 通过这项研究，科学家们不仅揭示了金属间化合物的形成过程，还发现了不同温度下纳米颗粒内元素分布和化学计量比的变化规律。这些发现不仅有助于理解金属间化合物的生成机制，还为相关材料的制备和性能优化提供了重要参考。

透射电子显微镜（TEM）全解析透射电子显微镜（TEM）是一种高分辨率的电子显微镜技术，主要用于观察材料的微观结构和成分。以下是TEM测试的几种常见目的：观察晶体结构 𐟔 TEM可以通过电子衍射技术观察材料的晶体结构，包括晶格常数、晶体取向和晶体缺陷等信息。分析材料成分 𐟔슔EM可以通过能谱分析技术（EDS）或电子能量损失谱（EELS）分析材料的成分，包括元素的种类和含量。研究材料形貌和尺寸 𐟓 TEM可以观察材料的形貌和尺寸，包括颗粒的形状、大小和分布等信息。探索材料界面和反应 𐟌 TEM可以观察材料的界面结构和界面反应，包括晶界、相界和界面反应产物等。样品要求 𐟓‹ 使用电压：200KV/300KV 样品类型：粉体、液体可测试，薄膜或块状样品需另行制样（如离子减薄、包埋切片、FIB等）。样品厚度：不超过100nm，如果颗粒稍大，可做FIB减薄或其他方法至100nm以下（可先拍SEM判定颗粒大小）。制样载网：普通碳膜适用于低倍材料或生物样品；超薄适用于量子点、小颗粒等尺寸较小材料；微栅适用于500nm以上管状、棒状、纳米团聚物样品；钼网适用于含Cu样品能谱采集。放射性元素：如果样品中含有U或其他放射性元素，一定要沟通确认是否可测！磁性样品：要求颗粒大小不超过200nm，且不接受自己制样，请务必仔细检查自己的样品。希望这些信息能帮助大家更好地了解TEM测试，祝各位科研顺利！

电池截面分析，揭秘电性能在新能源电池的研究中，锂离子电池正极极片的内部结构和性能至关重要。𐟔砩€š过观察和分析正极极片的截面形貌，可以深入了解电池循环后的变化，以及这些变化如何影响电化学性能。𐟔슊𐟌ˆ 氩离子抛光技术是一种有效的样品制备方法，它通过高速氩离子束轰击样品表面，使表面在微观尺度上变得平整和光滑。这种方法避免了机械切割可能带来的物理损伤，提供了更高的分辨率和准确性。𐟌Ÿ 𐟔�‰릏电子显微镜（SEM）是观察样品内部结构的重要工具。通过SEM测试，可以观察到正极极片的不同成分厚度，以及它们与能谱mapping测试结果的关联。𐟔犊𐟔젨ƒ𝨰𑭡pping测试则是利用EDS技术，检测样品中包含的各种元素，例如锂、镍、铅等，从而提供关于正极极片成分和分布的更多信息。𐟔 𐟓 在进行这些分析时，需要注意以下几点：样品不需要喷金处理。电压不能太高。易氧化样品需要结合真空制样和真空转移。拆解电池极片需要在干房中进行，包括浸泡和真空转移等步骤。通过这些步骤，我们可以更好地理解正极极片的结构和性能，为锂离子电池的优化提供重要的参考。𐟔‹

化学工业揭秘：仪器设备大观在化学工业中，对未知物成分的分析至关重要。为了实现这一目标，科学家们使用了一系列先进的仪器和设备。以下是一些常用的设备仪器，按照不同的类别进行分点表示和归纳：色谱类 𐟌ˆ 液相色谱仪（LC）：用于分离、分析和鉴定复杂混合物中的化合物。气相色谱仪（GC）：广泛应用于挥发性有机物的定性和定量分析。离子色谱仪（IC）：特别适用于离子型化合物的分析。光谱类 𐟌 紫外分光光度计（UV-Vis）：主要用于定量分析，通过测量物质对紫外光和可见光的吸收来确定其浓度。傅立叶变换红外光谱仪（FTIR）：是一种广泛使用的工具，用于快速确定物质的分子结构。原子吸收光谱仪（AAS）：用于测定痕量元素的含量。原子荧光光谱仪（AFS）：具有高灵敏度和高选择性，用于痕量元素的检测。电感耦合等离子体原子发射光谱仪（ICP-AES）：适用于多元素的同时分析。质谱类 𐟚€ 电感耦合等离子体质谱仪（ICP-MS）：结合了ICP的高离子化效率和MS的高灵敏度，用于元素和同位素的检测。气相色谱质谱联用仪（GC-MS）：结合GC和MS的优点，用于复杂混合物中有机化合物的定性和定量分析。液相色谱质谱联用仪（LC-MS）：适用于极性、热不稳定性和难挥发性化合物的分析。 X-射线仪器 𐟔슘-射线荧光光谱仪（XRF）：用于快速分析元素的含量。 X-射线衍射仪（XRD）：用于确定物质的晶体结构。扫描电子显微镜/X射线能谱仪（SEM-EDS）：结合SEM的高分辨率成像和EDS的元素分析能力，用于材料表面的形貌和元素分析。其他常用仪器 𐟛 ️ 核磁共振波谱仪（NMR）：用于分析物质的分子结构，尤其是有机物的结构。热重分析仪（TGA）：测量物质的质量随温度（或时间）的变化关系，用于研究材料的热稳定性和组成。凝胶渗透色谱仪（GPC）：用于高分子材料的分子量分布和分子结构分析。这些设备仪器各有特点，适用于不同的分析需求。在实际应用中，需要根据样品的性质、分析目的和实验室条件等因素选择合适的设备仪器进行分析。同时，随着科学技术的不断发展，新的分析技术和设备仪器不断涌现，为未知物成分分析提供了更多的选择。

一文搞懂扫描电镜（SEM）的核心知识如果你在材料科学领域混，那你一定得知道扫描电子显微镜（SEM）。这东西可是科学家们的得力助手，能帮他们深入剖析材料的微观结构和性能。今天，我就带你一探究竟，看看SEM到底有多厉害。一、SEM是什么？扫描电子显微镜，简称SEM，诞生于1965年左右。它主要是通过接收二次电子、背散射电子等信号，来观察样品表面的微观形貌。SEM的分辨率介于透射电镜和光学显微镜之间，是材料科学研究领域不可或缺的分析工具。 SEM的强大之处不仅在于形貌观察，还能通过与X射线能谱仪（EDS）等附件结合，分析材料的显微组织、成分以及织构等信息。更厉害的是，配合加热、拉伸等原位测试装置，SEM还能动态分析材料的性能。二、SEM设备简介举个例子吧，比如Zeiss Sigma 300场发射扫描电子显微镜，这可是个大家伙。它配套的能谱仪是Bruker 6130 EDS系统，简直是黄金搭档。三、常见问题解答粉末样品怎么选基底？对于那些分散性好的样品，直接放在导电胶上观察就行。如果样品容易团聚，建议先通过溶剂超声分散后滴膜测试。基底方面，硅片或铜片都可以，不过铜片导电性更好。如果要进行能谱分析，最好选那些不会干扰样品信息的基底。如何制备SEM截面样品？脆性材料，比如硅片或镀膜玻璃片，可以直接掰断或敲断。高分子聚合物等韧性材料则需要特殊处理，比如液氮脆断、离子切割或冷冻超薄切片等方法，以获得平整且无加工应变的截面。不导电样品的EDS分析中Au峰怎么处理？如果在EDS分析中出现Au峰干扰，可以在原始数据中将其去除。如果只是进行EDS分析，可以考虑不喷金处理。样品超声分散的最佳时间是多久？超声分散时间因样品而异，需要根据样品的团聚程度来确定合适的超声时间。为什么SEM-EDS测试轻元素时不准确？轻元素（如Be、B、C、N、O和F等）的特征X射线能量较低，容易被基底吸收，导致定量分析困难。因此，在测试这些元素时，需要特别注意并采取相应的校正措施以提高准确性。希望这篇文章能帮你更好地理解扫描电镜（SEM），下次看到这篇文章的时候，你就能自信满满地说出这些知识点啦！𐟒ꀀ

电镜明星齐聚！谁最亮眼？ 𐟎“ 电镜界的四大明星：透射电镜/TEM、扫描电镜/SEM、原子力显微镜/AFM、激光扫描共聚焦显微镜/CLSM～～～ 𐟔 扫描电镜/SEM 作用：主要用于观察表面形貌、断口形貌以及微区化学成分分析。项目：表观形貌、EDS能谱点扫、EDS能谱线扫、EDS能谱面扫/Mapping（镀金后可拍摄弱磁/强磁样品）。推荐仪器：捷克泰思肯/TESCAN MIRA3 𐟔젩€射电子显微镜/TEM 作用：通过聚焦电子束投射到非常薄的样品上，形成透射电子束或衍射电子束的图像，分析样品内部的微观组织结构。项目：表面形貌、EDS能谱点扫、EDS能谱线扫、EDS能谱面扫/Mapping、HAADF(STEM)、衍射（非磁/弱磁/强磁样品均可拍摄）。推荐仪器：日本电子/JEOL JEM-1200、日本日立/HITACHI HT7800(120KV) 𐟌 原子力显微镜/AFM 作用：研究固体材料（包括绝缘体）的表面形貌结构信息和表面粗糙度。项目：表面形貌/粗糙度、厚度、相图、力曲线、杨氏模量、KPFM、PFM、C-AFM、EFM、LFM、MFM、Force Mapping、原位、液下、原子力显微镜-红外联用。推荐仪器：德国布鲁克/Bruker Maltimode8、德国布鲁克/Bruker Dimension ICON 𐟌🠦🀥…‰扫描共聚焦显微镜/CLSM 作用：应用于细胞或组织的形态结构观察、生物活性物质追踪和基因表达调控等研究。项目：细胞live/dead、探针在细胞内成像、免疫荧光、细胞器亚定位、组织成像、各类成分的多标记3D成像。推荐仪器：日本VL200DX-SVF17SP

𐟔 EDX与EDS：元素分析的两大技术在电子显微镜分析中，EDX（能量色散X射线光谱法）和EDS（能量色散光谱法）是两种常用的元素分析技术。它们都依赖于能量分散来检测样品中不同元素的特征X射线，从而确定元素的分布和含量。EDX通常安装在扫描电子显微镜（SEM）或透射电子显微镜（TEM/STEM）上，而EDS则更多地与EPMA（电子探针微分析）系统结合使用。 𐟔젅DX与EDS的关键区别 EDX：主要用于SEM和TEM/STEM，通过设置X射线能谱的能量范围窗口，再使用电子束扫描样品，可以获得元素分布图。安装在SEM上时，由于加速电压较低，样品较厚，特征X射线会在样品中扩散，分辨率约为0.1um。 EDS：通常与EPMA系统结合使用，通过波长色散进行分光，适用于LSI失效分析。除非电子束量很大，否则难以检测到特征X射线。 𐟔砧麩—𔥈†辨率的差异安装在SEM上时，由于加速电压较低，样品较厚，特征X射线会在样品中扩散，分辨率约为0.1um。安装在STEM上时，样品薄至100nm左右，且电子束的加速电压高达200~300kV，因此电子束几乎不会在样品中扩散，横向分辨率可达nm量级。 𐟓Š 元素分布图的对比图2.51展示了EDX安装在SEM和STEM上的元素分布图对比。（a）是STEM下的As（砷）的EDX图像，显示了在MOS晶体管剖面中As的分布。（b）是SEM下的Cu的EDX图像，揭示了Cu通过电化学迁移枝晶生长引起的漏电故障。通过这些技术，研究人员能够更深入地了解材料和器件的微观结构和失效机制，从而进行更有效的设计和改进。

飞纳台式扫描电镜大面积自动数据采集使得自动化无缝全景拼图和大面积EDS能谱数据采集成为可能。这一技术的实现，极大地优化了设备操作时间，同时确保了数据的高质量获取。用户可以在各种样本上设置和运行多个图块集，实现自动化、无人值守的仪器作业。 #扫描电镜# #飞纳电镜# #科研#

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